Máy Kiểm Tra Cấu Trúc Điện

Máy Kiểm Tra Cấu Trúc Điện

    • Tối đa 2560 chân pin (Pin Resources)

    • 20 vị trí kiểm tra song song

    • Giao tiếp: GPIB, LAN-Ethernet

    • Giao thức SECS/GEM – tương thích tiêu chuẩn tự động hóa sản xuất

      Danh mục:

        Khám phá độ chính xác và độ tin cậy vượt trội với giải pháp Keysight Electrical Structural Tester (EST) – ứng dụng công nghệ nVTEP (nano Vectorless Test Enhanced Performance) tiên tiến giúp phát hiện các lỗi nhỏ nhất trong liên kết dây (wire bonding) của vi mạch (IC) sau khi đóng gói.
        Giải pháp này được thiết kế tối ưu cho môi trường sản xuất, hỗ trợ tối đa 20 vị trí kiểm tra song song, phù hợp cho cả kiểm tra sản xuất hàng loạt và đánh giá sản phẩm trả về (field return analysis).

        Giải pháp phát hiện lỗi liên kết dây toàn diện – nhanh hơn, chính xác hơn

        Keysight Electrical Structural Tester mang đến bước đột phá mới trong kiểm tra liên kết dây IC, giúp phát hiện nhanh chóng và chính xác nhiều dạng lỗi khác nhau như:

        • Gần chạm (near-shorts)

        • Dây lệch (stray wires)

        • Quét dây (wire sweep)

        • Dây võng (wire sag)

        • Và các lỗi ảnh hưởng bởi quá tải điện (Electrical Overstress – EOS)

        Bằng cách ứng dụng phương pháp đo điện dung (capacitive methodology), hệ thống có thể nhận diện chính xác các lỗi nhỏ nhất mà phương pháp kiểm tra truyền thống khó phát hiện.

        Giải pháp này giúp các nhà sản xuất:

        • Nâng cao chất lượng linh kiện điện tử

        • Giảm tỷ lệ hàng lỗi và sản phẩm trả về

        • Đảm bảo tính ổn định, nhất quán của sản phẩm

        Với khả năng xử lý 20 vị trí kiểm tra song song, máy đạt hiệu suất lên đến 72.000 IC/giờ (UPH) – tối ưu hóa đáng kể năng suất trong kiểm tra bao gói điện tử.

        Giải pháp kiểm tra linh hoạt cho nhiều loại IC

        Keysight Electrical Structural Tester hỗ trợ kiểm tra nhiều dạng gói linh kiện phổ biến như:

        • QFP (Quad Flat Package)

        • QFN (Quad Flat No-lead)

        • BGA (Ball Grid Array)

        Hệ thống tương thích với cả Handler dạng strip và dạng IC rời (singulated), đồng thời tích hợp bảng giao tiếp kiểm tra (Tester Interface Board), mang đến giải pháp toàn diện và dễ tích hợp trong dây chuyền sản xuất.
        Đây là minh chứng cho cam kết của Keysight Technologies trong việc duy trì tiêu chuẩn cao nhất về chất lượng và độ tin cậy của sản phẩm điện tử.

        Thông số kỹ thuật nổi bật

        Năng lực hệ thống:

        • Tối đa 2560 chân pin (Pin Resources)

        • 20 vị trí kiểm tra song song

        • Giao tiếp: GPIB, LAN-Ethernet

        • Giao thức SECS/GEM – tương thích tiêu chuẩn tự động hóa sản xuất

        Phương pháp kiểm tra:

        • Kiểm tra hở và ngắn mạch (Opens & Shorts Test)

        • nVTEP (nano Vectorless Test Enhanced Performance)

        Tính năng nâng cao chất lượng:

        • Retest Bin, MaRT (Marginal Retry Test)

        • DPAT (Dynamic Part Averaging Test)

        • RPAT (Realtime Part Averaging Test)

        Phụ kiện tùy chọn:

        • Diagnostic Interface Board

        • Load Board Stiffener

        • Spare Kit hỗ trợ bảo trì

        Ứng dụng và khả năng tương thích

        • Dạng IC hỗ trợ: IC tách rời (Singulated) và IC dạng dải (Lead Frame/Strip-based)

        • Loại gói kiểm tra: Gói đơn chip có liên kết dây (Single Die Wire-Bonded Packages)

        • Tương thích Handler: Cả dạng Strip và Singulated

        Với công nghệ nVTEP độc quyền cùng khả năng kiểm tra song song tốc độ cao, Keysight Electrical Structural Tester là giải pháp lý tưởng cho các nhà sản xuất vi mạch cần kiểm soát chất lượng liên kết dây chính xác và hiệu quả.
        Giải pháp này không chỉ rút ngắn thời gian kiểm tra, mà còn nâng cao độ tin cậy và năng suất trong toàn bộ quy trình sản xuất linh kiện bán dẫn hiện đại.