Khi sản lượng thiết bị Silicon Photonics (quang tử silicon) ngày càng tăng, yêu cầu về kiểm tra sản xuất hàng loạt trở nên cấp thiết hơn bao giờ hết – nhằm đảm bảo tăng nhanh tỷ lệ sản phẩm đạt chuẩn (yield ramp-up) và giảm chi phí kiểm tra hiệu quả.
Keysight NX5402A Silicon Photonics Wafer Test System Solution Set là giải pháp kiểm tra tự động, toàn diện và sẵn sàng cho sản xuất hàng loạt, đảm bảo hiệu suất hệ thống vượt trội để đáp ứng mọi yêu cầu khắt khe của quy trình kiểm tra trên máy dò wafer tự động.
Kiểm tra quang – điện chỉ trong một lần (One-Pass Testing)
NX5402A cho phép thực hiện kiểm tra quang học và điện học chỉ trong một lần duy nhất, tối ưu cho các dây chuyền sản xuất yêu cầu tốc độ và độ linh hoạt cao.
Giải pháp này hỗ trợ Automatic One-Pass Testing, bao phủ đầy đủ các dạng kiểm tra:
-
O/O (Optical-to-Optical)
-
E/E (Electrical-to-Electrical)
-
O/E (Optical-to-Electrical)
-
Và O/O kết hợp với E – những bài test phức tạp mà ít hệ thống nào có thể xử lý được.
Thị trường tăng trưởng mạnh – Thách thức trong kiểm tra sản xuất
Công nghệ Silicon Photonics đang mở rộng mạnh mẽ trong các lĩnh vực truyền dữ liệu, máy tính quang học, ô tô, y tế, v.v. Tuy nhiên, kiểm tra thiết bị quang tử silicon không hề đơn giản – đòi hỏi:
-
Độ chính xác cao trong đo quang học,
-
Kiểm soát cơ khí tinh vi,
-
Và khả năng đo điện tử truyền thống ổn định.
Trong sản xuất hàng loạt, các yếu tố độ lặp lại, độ tái lập và tương quan dữ liệu phải được duy trì nghiêm ngặt. Trước đây, nhiều nhà sản xuất buộc phải tự xây dựng hệ thống kiểm tra bằng cách mua thiết bị từ nhiều nhà cung cấp khác nhau – điều này gây tốn kém thời gian, chi phí bảo trì, và khó đồng bộ hóa phần mềm.
Lý do cần một giải pháp kiểm tra “một điểm đến – one-stop”
Các doanh nghiệp sản xuất wafer quang tử cần tập trung vào phân tích dữ liệu và cải thiện quy trình, thay vì mất thời gian tích hợp hệ thống.
Do đó, một giải pháp kiểm tra tích hợp, tự động, có hỗ trợ toàn diện từ nhà sản xuất như NX5402A trở thành lựa chọn lý tưởng giúp:
-
Rút ngắn thời gian thiết lập hệ thống,
-
Tăng hiệu quả sản xuất,
-
Giảm chi phí đầu tư và vận hành.
Từ phòng thí nghiệm đến sản xuất hàng loạt – Giải pháp toàn diện của Keysight
Keysight là nhà sản xuất thiết bị gốc (OEM) uy tín với các dụng cụ đo quang – điện đã được chứng minh qua thực tế trong R&D và sản xuất.
Hệ thống NX5402A tích hợp:
-
Khả năng đo quang – điện tiên tiến,
-
Hệ thống căn chỉnh sợi quang và định vị (Fiber Alignment and Positioning System) do Keysight phát triển,
-
Phần mềm PathWave Semiconductor Test – tự động hóa toàn bộ quá trình kiểm tra.
Người dùng có thể tận hưởng hiệu suất đo lường chuẩn phòng thí nghiệm với tốc độ và độ tin cậy của sản xuất hàng loạt trên wafer prober tự động.
Hiệu suất đảm bảo với tính năng hiệu chuẩn và chẩn đoán hệ thống
NX5402A trang bị Advanced Wafer-Level Photonic Calibration, cho phép hiệu chuẩn và xác minh các tham số quang học – cơ học bằng công cụ chuyên dụng, đảm bảo hiệu suất hệ thống luôn ổn định ở cấp độ wafer.
Ngoài ra, tính năng Automatic System Diagnostics cho phép giám sát tình trạng phần cứng theo thời gian thực, giúp duy trì hoạt động ổn định và giảm thời gian ngừng máy.
Tương thích phần mềm SPECS – Tối ưu quy trình phát triển kiểm tra
Phần mềm PathWave Semiconductor Test hỗ trợ phát triển và thực thi kế hoạch kiểm tra tương thích với Keysight SPECS, kèm phiên bản offline để phát triển bài test nhanh hơn và hiệu quả hơn.
Tự động hóa sản xuất với PathWave Semiconductor Test
Toàn bộ hệ thống NX5402A được điều khiển bởi PathWave Semiconductor Test, cung cấp thêm các tùy chọn như:
-
Factory Automation Software – kết nối liền mạch với hệ thống sản xuất,
-
Automated Multi-Recipe Execution – chạy nhiều công thức kiểm tra liên tiếp trong chế độ batch hoàn toàn tự động.
Keysight NX5402A Silicon Photonics Wafer Test System là giải pháp kiểm tra toàn diện, tự động hóa cao, đáng tin cậy và sẵn sàng cho sản xuất hàng loạt.
Với hiệu suất được chứng nhận, khả năng tích hợp linh hoạt và nền tảng phần mềm mạnh mẽ, NX5402A chính là chìa khóa giúp doanh nghiệp rút ngắn thời gian ra thị trường, tăng năng suất và tối ưu chi phí kiểm tra trong lĩnh vực Silicon Photonics.
