Hệ Thống Kiểm Tra Tham Số Keysight 4080 Series

  • 4082A Parametric Test System: hiệu suất đo chính xác, tốc độ cao, tương thích hoàn toàn với nền tảng 4070/SPECS.

  • 4082F Flash Memory Cell Parametric Test System: được trang bị bộ tạo xung SPGU tích hợp, cho phép đo nhanh và chính xác các tế bào bộ nhớ flash, đồng thời hỗ trợ ma trận chuyển mạch tần số cao (High-Frequency Switching Matrix) tùy chọn.

    SKU: Keysight 4080 Series Danh mục: